日本电子发布新的STEM探测器“4DCanvas”(2017-08-07)

2017年7月，日本电子发布新的STEM(扫描透射电子显微镜)探测器“4DCanvas”。　　作为一种新颖的新型探测器，“4DCanvas”可以记录所有传输、衍射和散射电子的位置和强度，作为STEM图像的每个像素的二维(2D…[详情]

日本电子推出新探测器“4DCanvas”(2017-08-03)

2017年7月，日本电子发布新的STEM(扫描透射电子显微镜)探测器“4DCanvas”。 　　作为一种新颖的新型探测器，“4DCanvas”可以记录所有传输、衍射和散射电子的位置和强度，作为ST…[详情]

日本电子推出新探测器“4DCanvas”(2017-08-03)

【中国仪表网仪表新品】2017年7月，日本电子发布新的STEM(扫描透射电子显微镜)探测器“4DCanvas”。　　作为一种新颖的新型探测器，“4DCanvas”可以记录所有传输、衍射和散射电子…[详情]