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晶片级测量

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  • 安捷伦和康思德联手研发晶片级测量解决方案(2014-06-24)

    【摘要】安捷伦科技公司和康思德精密科技有限公司日前宣布双方结成战略合作关系,旨在为客户提供经过全面配置和验证的射频测量解决方案,该解决方案不仅能够简化晶片级半导体测量,而且还能提供有保…[详情]

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