智能自动化测试系统将步入全新的时代

　　近日，NI国家仪器发布2016年自动化测试展望，一向以协助工程师和科学家克服最艰钜的工程挑战为己任的单位，所发布的这份测试与量测年度报告提供了完整概观，证实了随着连线设备普及的今日，自动化测试环境也将进入下一个世代；包括毫米波（mmWave）通讯测试的准备作业，以及如何有效运用制造测试资料来提升商务表现等重大自动化测试趋势剖析。

　　
 　　“NI致力于推动优异的自动化测试系统，与客户和供应商密切合作，藉此掌握制造与测试部门所面临的关键议题。”NI自动化测试行销总监LukeSchreier表示：“不论您的挑战是测试超大量的物联网设备，或是管理已使用20年的测试系统，我们的目标就是激起贵组织内的对话火花，进而帮助您降低测试成本，并且遥遥领先竞争对手。”
　　
　　2016年自动化测试展望报告囊括了下列主题：
　　
　　运算：剖析生产测试资料
　　
　　半导体公司率先采用Real-Time资料分析，藉此降低制造测试成本。软件：生命周期管理的关键在于软件
　　
　　只要是长期专案，就会面临产品汰换、OS不断更新、相容性等状况，这些都是值得重新探讨的旧问题。架构：测试管理软件的崛起
　　
　　随着新的程序设计语言大量出现，现成的测试执行档可说是有效的解决方案。I/O：特性测试与生产测试的平台标准化
　　
　　RFIC公司可在产品设计周期中重复使用IP并完成硬件标准化，藉此降低成本、幅缩短上市时间。商务策略：测试策略的毫米波（mmWave）新浪潮
　　
　　测试工程师采用模组化解决方案，透过符合经济效益的方式检验高频率元件。