国内首款X射线小角散射测试仪研制成功

作者： 2013年08月27日来源：浏览量：

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日前，由秦皇岛太极环纳米制品公司出资，钢铁研究总院粉末冶金研究室高级工程师郑毅，经过两年的潜心研制与改进，国内首款X射线小角散射测试仪日前研制成功。

　　该测试仪依据国家和国际标准技术规范，可以进行1—300nm的数量级范围内的纳米颗粒粒度分布测试，主要应用于金属、陶瓷、涂料等工业领域。其测试精度接近或超过进口设备，价格比同类进口仪器降低了2/5左右。

　　据了解，目前，可用于测量纳米颗粒粒度分布的测试仪器还包括电镜、BET比表面仪与纳米粒度仪。X射线小角散射方法有明显的技术优势，与电镜相比，X射线小角散射法制样简单，样品测量种类多样，数据的统计代表性优良。据介绍，BET比表面测试的方法无法给出纳米粒度分布的测试结果，激光法测试的纳米粒度仪器需要对样品进行很好的分散，否则测量结果为颗粒团聚体的粒度分布，而X射线小角散射仪测定结果为一次颗粒的粒度分布，即使纳米颗粒不能很好的分散，测试结果受颗粒团聚效应的影响也不大。

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标签：X射线小角散射测试仪研制

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