20项国家标准公布 涉多项仪器仪表测试方法
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序号 |
国家标准编号 |
国 家 标 准 名 称 |
代替标准号 |
实施日期 |
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1 |
GB/T 4377-2018 |
半导体集成电路 电压调整器测试方法 |
GB/T 4377-1996 |
2018-08-01 |
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2 |
GB/T 14028-2018 |
半导体集成电路 模拟开关测试方法 |
GB/T 14028-1992 |
2018-08-01 |
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3 |
GB/T 35001-2018 |
微波电路 噪声源测试方法 |
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2018-08-01 |
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4 |
GB/T 35002-2018 |
微波电路 频率源测试方法 |
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2018-08-01 |
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5 |
GB/T 35003-2018 |
非易失性存储器耐久和数据保持试验方法 |
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2018-08-01 |
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6 |
GB/T 35004-2018 |
数字集成电路 输入/输出电气接口模型规范 |
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2018-08-01 |
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7 |
GB/T 35005-2018 |
集成电路倒装焊试验方法 |
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2018-08-01 |
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8 |
GB/T 35006-2018 |
半导体集成电路 电平转换器测试方法 |
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2018-08-01 |
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9 |
GB/T 35007-2018 |
半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法 |
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2018-08-01 |
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10 |
GB/T 35008-2018 |
串行NOR型快闪存储器接口规范 |
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2018-08-01 |
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11 |
GB/T 35009-2018 |
串行NAND型快闪存储器接口规范 |
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2018-08-01 |
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12 |
GB/T 35010.1-2018 |
半导体芯片产品 第1部分：采购和使用要求 |
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2018-08-01 |
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13 |
GB/T 35010.2-2018 |
半导体芯片产品 第2部分：数据交换格式 |
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2018-08-01 |
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14 |
GB/T 35010.3-2018 |
半导体芯片产品 第3部分：操作、包装和贮存指南 |
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2018-08-01 |
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15 |
GB/T 35010.4-2018 |
半导体芯片产品 第4部分：芯片使用者和供应商要求 |
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2018-08-01 |
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16 |
GB/T 35010.5-2018 |
半导体芯片产品 第5部分：电学仿真要求 |
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2018-08-01 |
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17 |
GB/T 35010.6-2018 |
半导体芯片产品 第6部分：热仿真要求 |
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2018-08-01 |
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18 |
GB/T 35010.7-2018 |
半导体芯片产品 第7部分：数据交换的XML格式 |
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2018-08-01 |
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19 |
GB/T 35010.8-2018 |
半导体芯片产品 第8部分：数据交换的EXPRESS格式 |
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2018-08-01 |
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20 |
GB/T 35011-2018 |
微波电路 压控振荡器测试方法 |
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2018-08-01 |
合理、规范的国家标准将有利于仪器仪表行业更好地发展壮大，便于我国的仪器研发团队在现有仪器标准的基础上，开发更便捷快速的零部件，提升仪器的技术含量。同时对我国仪器制造商业有了明确的规范，对仪器测量的精度和准度作出了更高的要求，这将有助于我国分析仪器更好的得到长足发展。
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