集成电路芯片测试中芯片失效怎么应对？

　　集成电路芯片测试是用于各种芯片、半导体、元器件测试中的，一旦芯片失效的话，测试工作就会停止，那么，集成电路芯片测试的失效用户需要了解清楚比较好。

　　集成电路芯片失效分析的目的是借助各种测试分析技术和分析程序确认电子元器件的失效现象，分辨其失效模式和失效机理，并确认其失效原因，并提出改善设计和制造工艺的建议，防止失效的重复出现，提高元器件的可靠性，失效分析是产品可靠性工程中一个重要组成部分。一般电子产品在集成电路芯片研发阶段，失效分析可纠正设计和研发阶段的错误，缩短研发周期，在产品生产、测试和使用时期，失效分析可找出元件的失效原因与引起元件失效的责任方，并根据失效分析结果，改进设计，并完善产品，提高整机的成品良率和可靠性有重要意义。

　　对于集成电路芯片失效原因过程的诊断过程叫做失效分析，但是我们在进行失效分析的过程中，往往需要借助仪器设备，以及化学类手段进行分析，失效分析的主要内容包括：明确分析对象，确认失效模式，判断失效原因，研究失效机理，提出改善预防措施。

　　现在科技发展迅速，集成电路芯片越来越小型化，复杂化，系统化，其他的功能越来越强大，集成度越来越高，体积越来越小，所以对于失效元件分析的要求越来越高，用于分析的失效的新技术，新方法，新设备越来越多，在实际的失效分析过程中，遇到的失效情况各不相同，可以根据失效分析的目的与实际，选择合适的分析技术与方法，要做到模式准确，原因明确，机理清楚，措施得力，模拟再现，举一反三。

　　集成电路芯片测试工作运行建议芯片失效的工作处理好比较好，避免一些不可抗力导致集成电路芯片测试不能合理的进行。（内容来源网络，如有侵权，请联系删除。）