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彼奥德比表面积仪首获中国计量院认证

作者: 2013年12月23日 来源: 浏览量:
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2012年12月,北京彼奥德电子SSA-4000系列静态容量法孔径及比表面积分析仪,荣获了中国计量科学研究院的测试证书。中国计量科学研究院测试依据是国家标准GB/T21650.2第二部分气体吸附法分析介孔和大孔以及GB/T19587气

    2012年12月,北京彼奥德电子SSA-4000系列静态容量法孔径及比表面分析仪,荣获了中国计量科学研究院的测试证书。中国计量科学研究院测试依据是国家标准GB/T21650.2 第二部分 气体吸附法分析介孔和大孔以及GB/T19587 气体吸附BET法测定固体物质比表面,用彼奥德生产的SSA-4000系列仪器测定美国特制的孔径标准样品,测试结果充分证明了彼奥德电子SSA-4000系列仪器测量精确度高,重复性好,标志着其性能已达到国际先进水平,完全可以代替进口。
    在中国,本次检测是对国产孔径分布测试仪器的首例检测,无疑是SSA-4000系列比表面积及孔径分析测试仪质量的有力鉴证,也是对彼奥德电子十年间所在低温氮吸附领域取得的成绩给予肯定.

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