柳沁科技LQ-TS-225连接器冷热冲击试验箱的简单介绍连接器冷热冲击试验箱适用于电子电器、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工厂BGA、PCB基板、半导体陶瓷及高分子材料。柳沁科技LQ-TS-225连接器冷热冲击试验箱的详细信息连接器冷热冲击试验箱适用于电子电器、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工厂BGA、PCB基板、半导体陶瓷及高分子材料。 连接器冷热冲击试验箱分为分为高温箱常温箱、低温箱三部分,采独特之断热结构及蓄热蓄冷效果,试验时待测物通过高温-常温-低温循环移动,以达到冷热冲击测试目的。 符合标准: GB 10592-89高、低温试验箱技术条件 GB/T10589- 1989低温试验箱技术条件 GB/T 2423.2-2001高温 GB/T 2423.1-2001低温 GB/T2423.1-2008(IEC60068-2- 1:2007)低温试验方法Ab GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007)高温试验方法Bb GJB150.4-1986低温试验 GJB150.3-1986高温试验 JIS C60068-2-2-1995试验B:干热 JIS C60068-2-1-1995试验A:低 JIS C60068-2-1-1995试验A:低温 JESD22-A103-C-2004高温储存试验 JESD22-A119-2004低温储存试验 JESD22-A119-2004低温储存试验 MIL-STD-810F-501.4高温 MIL-STD883C方法1004.2 MIL-STD810方法507.2 程序3 MIL-STD-810F-502.4低温 IEC68-2-01_试验方法A冷 GB/T2423.1-2001低温试验方法; GB/T2423.22- 1989温度变化试验N; GJB150.3-86; GJB150.4- 86; GJB150.5- -86; GJB150.5-86温度神击试验; GJB360.7-87温度冲击试验; GJB367.2-87 405温度冲击试验; SJ/T101 87-91Y73系列温度变化试验箱一-箱式; SJ/T101 86-91Y73系列温度变化试验箱一二箱式; 满足标准IEC68-2-14试验方法N温度变化; GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则; GB/T 2423.22-2002温度变化; QC/T17-92汽车零部件耐候性试验-般规则; EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。 IEC68-2-02_试验方法B_ _干热 IEC68-2-01_试验方法A冷 IEC68-2-02_试验方法B _干热 以上是柳沁科技LQ-TS-225连接器冷热冲击试验箱的详细信息,如果您对柳沁科技LQ-TS-225连接器冷热冲击试验箱的价格、厂家、型号、图片有任何疑问,请联系我们获取柳沁科技LQ-TS-225连接器冷热冲击试验箱的最新信息 |