柳沁科技LQ-TS-252温度冲击老化实验测试箱的简单介绍温度冲击老化实验测试箱提供温度瞬间变化环境,供用户对整机(或部件)、电器、仪器、材料等作温度试验,以便考核试品的适应性或对试品的行为作出评价。柳沁科技LQ-TS-252温度冲击老化实验测试箱的详细信息温度冲击老化实验测试箱提供温度瞬间变化环境,供用户对整机(或部件)、电器、仪器、材料等作温度试验,以便考核试品的适应性或对试品的行为作出评价。暴露产品的缺陷,是新产品研制、样机试验、产品合格鉴定试验全过程必不可少的重要试验手段。 温度冲击老化实验测试箱分为高温室、低温室、测试室三部分,采独特之断热结构及蓄热蓄冷效果,试验时待测物完全静止,应用冷热风路切换方式将冷、热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的。 可选择的容积有如下: 50L内箱尺寸为360x350x400(WxHxD)MM外尺寸以实物尺寸为准。 80L内箱尺寸为500x400x400(WxHxD)MM外尺寸以实物尺寸为准。 150L内箱尺寸为600x500x500(WxHxD)MM外尺寸以实物尺寸为准。 250L内箱尺寸为700x600x600(WxHxD)MM外尺寸以实物尺寸为准。 512L内箱尺寸为800x800x800(WxHxD)MM外尺寸以实物尺寸为准。 1000L内箱尺寸为1000x1000x1000(WxHxD)MM外尺寸以实物尺寸为准。 满足以下标准: GB/T2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验A:低温。 GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B: 高温。 GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件。 GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件。 GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件。 GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则。 GB/T5170.2-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 温度试验设备。 GB2424.1 电工电子产品环境试验 高低温试验导则。 GB/T2423.22-1989温度变化试验。 GB/T 2423.22-2002温度变化。 GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则。 GJB150.3A-2009 军用装备实验室环境试验方法第3部分高温试验。 GJB 150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验。 GJB 150.5A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验。 GJB367.2-1987 军用通信设备通用技术条件 环境试验方法。 GJB360.7-87温度冲击试验。 GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验。 IEC68-2-14_试验方法N_温度变化。 EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。 QC/T 17-1992 汽车零部件耐候性试验一般规则 汽车行业标标准等等包括其它产品行业标准。 以上是柳沁科技LQ-TS-252温度冲击老化实验测试箱的详细信息,如果您对柳沁科技LQ-TS-252温度冲击老化实验测试箱的价格、厂家、型号、图片有任何疑问,请联系我们获取柳沁科技LQ-TS-252温度冲击老化实验测试箱的最新信息 |