HatPlant 共聚焦显微镜HSR-8000的简单介绍共聚焦显微镜HSR-8000可对待测物的表面进行非接触式三维形貌扫描,获取2D/3D表面形貌、分析微观轮廓几何尺寸、粗糙度、平整度、曲率、面形精度等参数指标。HatPlant 共聚焦显微镜HSR-8000的详细信息共聚焦显微镜HSR-8000可对待测物的表面进行非接触式三维形貌扫描,获取2D/3D表面形貌、分析微观轮廓几何尺寸、粗糙度、平整度、曲率、面形精度等参数指标,提供依据ISO/ASME/EUR/GBT/四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。产品优势: 1、高精度、高重复性 采用针孔,共聚焦光学系统、高稳定性结构设计、优异的3D重建算法组成测量系统保证测量精度高; 2、一体化操作的测量分析软件 1)测量与分析同界面操作,无须切换,测量数据自动统计,实现了快速批量测量的功能; 2) 可视化窗口,便于用户实时观察扫描过程; 3)结合自定义分析模板的自动化测量功能,可自动完成多区域的测量与分析过程; 4)几何分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析五大功能模块齐全; 5)一键分析、多文件分析,自由组合分析项保存为分析模板,批量样品一键分析,并提供数据分析与统计图表功能; 6) 可测依据ISO/ASME/EUR/GBT等标准的多达300余种2D、3D参数。 技术参数:
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