柳沁科技LQ-TH-408芯片恒温恒湿测试箱0℃的简单介绍

柳沁科技LQ-TH-408芯片恒温恒湿测试箱0℃的详细信息

芯片恒温恒湿测试箱0℃150L可以把多个试验条件编定成多个程序让它们自主按人工设定的指令不停的循环试验。

常用于航天太空、国防工业、自动车部品、塑化工业、光纤、精密电感、晶体、PCB、LED、LCD电子零组件、食品业、制药工业、半导体电脑周边组件及各相关产品之研发、品质管理工程之测试规范。

芯片恒温恒湿测试箱0℃150L的规格参数：(除了以下标准尺寸柳沁还可以为大家定制非标尺寸）

LQ-TH-80试验箱内尺寸（W*D*H）mm:400*400*500。

LQ-TH-150试验箱内尺寸（W*D*H）mm: 500*500*600。

LQ-TH-225试验箱内尺寸（W*D*H）mm: 600*500*750。

LQ-TH-408试验箱内尺寸（W*D*H）mm: 600*800*850。

LQ-TH-800试验箱内尺寸（W*D*H）mm: 1000*800*1000。

LQ-TH-1000试验箱内尺寸（W*D*H）mm:1000*1000*1000。

2、恒湿湿度范围：20%～98%R.H。

3、恒温温度范围可选：0℃～150℃、-20℃～150℃、-40℃～150℃、-60℃～150℃、-70℃～150℃。

4、解析精度：温度：0.01℃；湿度：0.1%R.H。

5、温度波动度：±0.5℃。

6、温度均匀度：±2℃。

7、升温速率：约3℃/min（从低温升到高温、非线性空载）。

8、降温速率：0.75℃-1℃/min（从高温降到低温、非线性空载）。

9、本试验箱可模拟高温恒温、低温恒温、高温恒湿、湿热交变等不同环境气候的测试条件，搭配容易操作和学习的高准确性编程系统，提供 测试性能条件，广泛适用于电工、电子、电器、LED、汽车配件、手机、仪器仪表及其它产品零部件在高低温湿热环境下贮存、运输、使用时的适应性试验，确定上述产品对高低温及湿热环境的耐温耐湿适应性检测。

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