反射率测试仪器-红外发射率测定仪-TSS-5X-2

产地：日本

规格：适用各种研究机关、生产线、各材质表面处理之微小变化数值化，蓄热、断热材料之放射率测量，钢铁厂、半导体材质的放射率研究测量等。

公司所在地：广东深圳

电话：13316594533

详细信息

适用各种研究机关、生产线、各材质表面处理之微小变化数值化，蓄热、断热材料之放射率测量，钢铁厂、半导体材质的放射率研究测量等。

概述

日本japansenor公司TSS5X-2红外发射率检测仪是在常温状态下，能快速方便的测量各种材质的放射率。适用各种研究机关、生产线、各材质表面处理之微小变化数值化，蓄热、断热材料之放射率测量，钢铁厂、半导体材质的放射率研究测量等。

产品特点
了解发射率有助于节省能源，例如，可以提高电加热器的发射率，并着重于散热和绝缘设计产品。

TSS-5X-2可以轻松测量发射率，而无需在室温下加热目标。

当测量它们的发射率时，可以使用两个固定发射率的标准测量设备，一个具有0.97的黑表面速率，另一个具有0.06的镜面速率。

通过读取从目标反射并通过黑体上的小孔到达传感器头的红外线来检测反射的能量。

产品型号	TSS-5X-2	产品厂商	日本侦测器株式会社-深圳市万仪科技有限公司中国代理。
测量方式	利用恒温发射源的红外辐射进行反射能量检测	测定波长	2 ～ 22μm
测定范围	放射率0.00～1.00	测量精度	±0.01以内
测定面积	Φ15mm	测定距离	12mm
材料温度	10～40℃（室温）	数值显示	LED数位显示
输出	0～0.1V；0～1V Full-Scale	环境温度	10～45℃
环境湿度	35～85％（无结露状态）	电源	AC100~240V, 50/60Hz
尺寸	本体H156 x W306 x D230 mm, 2.8Kg 探测头Φ51 X L137 mm 0.6Kg	附属品	放射率0.06, 0.97基准片各一片，收纳箱一个。

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