1．无损检测方法选择原则

1) 每一种无损检测方法均有其能力范围和局限性，且应保证足够的实施操作空间；2) 仅能检测表面开口缺陷的无损检测方法包括渗透检测和目视检测。渗透检测主要用于非多孔性材料，目视检测主要用于宏观可见缺陷的检测；

2) 能检测表面开口缺陷和近表面缺陷的无损检测方法包括磁粉检测和涡流检测。磁粉检测主要用于铁磁性材料，涡流检测主要用于导电金属材料；

3) 可检测材料中任何位置缺陷的无损检测方法包括射线检测、超声检测、衍射时差法超声检测和X射线数字成像检测。一般而言，超声检测、衍射时差法超声检测对于表面开口缺陷或近表面缺陷的检测能力低于磁粉检测、渗透检测或涡流检测；

4) 为确定承压设备内部或表面存在的活性缺陷的强度和大致位置，可采用声发射检测。声发射检测需要对承压设备进行加压试验，发现活性缺陷时应采用其他无损检测方法进行复验；

5) 仅能检测承压设备贯穿性缺陷或整体致密性的无损检测方法为泄漏检测；

6) 对于铁磁性材料，为检测表面或近表面缺陷，应优先采用磁粉检测方法，确因结构形状等原因不能采用磁粉检测时方可采用其他无损检测方法；

7) 当采用一种无损检测方法按不同检测工艺进行检测时，如果检测结果不一致，应以危险度大的评定级别为准；

8) 当采用两种或两种以上的检测方法对承压设备的同一部位进行检测时，应按各自的方法评定级别。

2．无损检测方法的缺陷检测有效性

表1列出了各种无损检测方法通常能检测的一般缺陷，应看作一般的指导，而不是在一种特定应用中对某种无损检测方法的要求和禁用。对于使用产生的缺陷，检测部位的可接近性和条件也是考虑采用某种无损检测方法的重要因素。另外，表1未包含所有的无损检测方法，使用者在一种特定的应用中选择无损检测方法时，必须考虑所有相关的条件。

表1 缺陷与无损检测方法对照表

上表说明：

（1）字母说明：

VT-目视检测；PT-渗透检测；MT-磁粉检测；ET-涡流检测；

RT-射线检测；DR-X 射线数字成像检测；UTA-超声检测（斜入射）；UTS-超声检测（直入射）；AE-声发射检测；TOFD-衍射时差法超声检测。

（2）符号含义：

●— 在通常情况下，按相应标准规定的无损检测方法和技术都能检测这种缺陷。

◎— 在某种条件下，按相应标准规定的特定的无损检测技术将能检测这种缺陷。

○— 检测这种缺陷要求专用技术和条件。

注：【1】-仅能检测表面开口缺陷的无损检测方法。

【2】-能检测表面开口和近表面缺陷的无损检测方法。

【3】-可检测被检工件中任何位置缺陷的无损检测方法。